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推薦產(chǎn)品

Alpha-Step臺階儀

Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
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三維光學輪廓儀

非接觸式輪廓儀優(yōu)點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種光學計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時采...
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經(jīng)濟三維光學輪廓儀可測樣

Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟三維光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器可測樣。
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光學表面缺陷分析儀

Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測，其...
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TEM氮化硅薄膜窗口

與X射線用氮化硅窗口類似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...
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納米壓印膠

公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...
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全自動晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將P-17臺式系統(tǒng)的測量性能和經(jīng)過生產(chǎn)驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結(jié)合。這樣的組合為機械傳送臂系統(tǒng)提供了低成本，適...
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晶圓探針式輪廓儀/臺階儀

P-7晶圓探針式輪廓儀/臺階儀保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了好的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接...
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高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）

高分辨率納米壓印模板（Mold for nanoimprint lithography）采用*制造工藝，可把平面納米壓印拓展到任意曲面。標準模板分為三類：Quartz Molds, Silicon M...
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氮化硅薄膜窗格

SHNTI的X-射線薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟X-射線(如真空紫外線)的Z大透射率。主要用于同步輻射X射線透射顯微成像時承載樣品。 X-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀...
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Imprint Nano納米壓印

納米壓印的技術(shù)與工藝特點，*性地設(shè)計和制備工作于低真空環(huán)境下，結(jié)合正負壓可控調(diào)節(jié)并利用壓縮空氣作為壓印驅(qū)動力的，通過壓力傳導(dǎo)裝置、緩沖與勻壓、壓力調(diào)節(jié)控制裝置等手段實現(xiàn)平穩(wěn)可靠可控的壓印過程，借助于多...
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俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力

俄羅斯產(chǎn)高性價比掃描探針顯微鏡原子力驅(qū)近系統(tǒng)的機械設(shè)計可使得經(jīng)過幾次驅(qū)近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個特點可以讓您在幾周內(nèi)仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。
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產(chǎn)品展示

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產(chǎn)品分類

掃描探針顯微鏡
日本原裝隔振平臺
能譜儀
輪廓儀

接觸式輪廓儀光學輪廓儀
光纖光譜儀
俄羅斯NT-MDT針尖耗材
納米團簇束流沉積系統(tǒng)
脈沖激光沉積/分子束外延聯(lián)用系統(tǒng)
超高真空脈沖激光鍍膜系統(tǒng)
納米傳感探針
粒度儀
納米壓印

Imprint Nano納米壓印
探針臺
日本臺階儀
臺階儀
納米壓痕儀
電導(dǎo)率儀
硬度計
拉伸臺
隔振臺
清洗儀
激光制樣
掃描熱學顯微鏡
等離子共振顯微鏡
光學表面缺陷分析儀
電子束曝光系統(tǒng)
聚合物筆印刷
原子力顯微鏡
外延薄膜設(shè)備
光刻機
低溫設(shè)備
鍍膜機
長晶設(shè)備
顯微鏡
晶圓檢測
組裝與封裝設(shè)備

鍵合機

tel-phone

021-64283335

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原位拉伸臺

為了滿足現(xiàn)代材料研究的挑戰(zhàn)，Swift開發(fā)了一系列*可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統(tǒng)，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實現(xiàn)...
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Alpha-Step臺階儀

Alpha-Step D-300/500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D 測量。Alpha-Step臺階儀光學杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。 ...
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三維光學輪廓儀

非接觸式輪廓儀優(yōu)點就是測量裝置探測部分不與被測表面的直接接觸，保護了測量裝置，同時避免了與測量裝置直接接觸引入的測量誤差。Zeta-20三維光學輪廓儀集成了六種光學計量技術(shù)。 ZDot 測量模式同時采...
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經(jīng)濟三維光學輪廓儀可測樣

Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟三維光學輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測量。我司有此機器可測樣。
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高精度臺式納米壓痕儀

iNano高精度臺式納米壓痕儀是一種緊湊，用戶友好的納米機械測量系統(tǒng)，設(shè)計用于硬涂層，薄膜和少量材料。該系統(tǒng)旨在進行準確，可重復(fù)的納米級機械測試，包括壓痕，硬度，劃痕和通用納米級測試。iNano具有很...
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光學表面缺陷分析儀

Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導(dǎo)體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料，又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測，其...
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方阻測試儀

Filmetrics R50 是KLA電阻測試家族的最新產(chǎn)品。R50方阻測試儀是KLA超45年電阻測量技術(shù)地位之作。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔...
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高精度原子力顯微鏡

高精度原子力顯微鏡 ParkNX10為您帶來納米級分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。在SmartScanAuto有的智能模式下，系統(tǒng)自動執(zhí)行所有必要的成像操作，同時智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描...
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原位納米力學測試系統(tǒng)

Nano Indenter® G200原位納米力學測試系統(tǒng)是一種準確，靈活，使用方便的納米級機械測試儀器。 G200 測量楊氏模量和硬度，包括從納米到毫米的六個數(shù)量級的形變測量。可測量聚合...
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表面等離子共振顯微鏡

SPRm200 表面等離子共振顯微鏡工作原理基于表面等離子共振（SPR）技術(shù)。是世界上先將表面等離子體共振技術(shù)和光學顯微鏡巧妙結(jié)合為一體的生物傳感檢測儀。可以同時得到細胞原位明場成像、SPR成像、及S...
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TEM氮化硅薄膜窗口

與X射線用氮化硅窗口類似，透射電鏡(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低應(yīng)力氮化硅薄膜基底。但整體尺度更小，適合TEM裝樣的要求。窗口有單窗口和多窗口陣列等不同規(guī)格。同時SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口...
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納米壓印膠

公司擁有齊全的納米系列壓印膠材料，熱壓型納米壓印膠、熱塑型、紫外光固化型、紫外光固化納米壓印和光刻兩用膠、舉離型傳遞層材料、刻蝕型傳遞層材料、各種與納米壓印技術(shù)相關(guān)的化學藥品，如模板防粘劑、基片增粘劑...
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緊湊型臺式光刻系統(tǒng)

緊湊型臺式光刻系統(tǒng)重新定義無掩模光刻技術(shù)LITHO MASKLESS 是一款緊湊型臺式光刻系統(tǒng)利用基于 UV LED 的 DLP 引擎實現(xiàn)無掩模圖案化。設(shè)計簡潔，精準它將微加工技術(shù)從潔凈室和任何研究或...
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半自動晶圓鍵合機

SUME BW510是用于研發(fā)或小批量生產(chǎn)的半自動晶圓鍵合設(shè)備，具備良好的壓力與溫度均勻性較為特的結(jié)構(gòu)設(shè)計保證鍵合的壓盤相對水平，優(yōu)良的真空系統(tǒng)以及腔體設(shè)計，方便簡潔的菜單編輯和設(shè)備狀態(tài)監(jiān)控以及安全保...
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自由曲面三維面型檢測儀

自由曲面三維面型檢測儀自由曲面光學元件應(yīng)用于智能車載顯示、AR 顯示、手機鏡頭、激光顯示、照明、光刻等前沿領(lǐng)域，自由曲面三維面型檢測儀，能夠非接觸測量光學鏡面元件的三維面型數(shù)據(jù)，開展三維輪廓分析和三...
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晶圓翹曲應(yīng)力測量儀

晶圓翹曲應(yīng)力測量儀具備三維翹曲（平整度）及薄膜應(yīng)力的檢測功能，適用于半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)、半導(dǎo)體制程工藝開發(fā)、玻璃及陶瓷晶圓生產(chǎn)
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三維測量輪廓儀

從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進行表面微觀測量分析和粗糙度質(zhì)量評價。白光干涉原理。
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內(nèi)應(yīng)力檢測儀

Strain Viewer 內(nèi)應(yīng)力檢測儀具備化合物晶圓內(nèi)應(yīng)力分布測量及缺陷篩查等檢測功能
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高光譜顯微系統(tǒng)

高級研究型高光譜顯微系統(tǒng)結(jié)合了高光譜技術(shù)和顯微鏡技術(shù)，能夠在不同波長范圍內(nèi)獲取高分辨率的光譜信息與生物樣品形態(tài)圖，實現(xiàn)在一張圖中同時獲取光譜和圖像信息。該系統(tǒng)還運用AI技術(shù)實現(xiàn)虛擬染色，大幅度提高病理...
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陣列式壓力傳感系統(tǒng)

陣列式壓力傳感系統(tǒng)通過由前端柔性陣列式微機電壓力感測器及后端軟件界面組成，前端傳感器依所承受壓力呈現(xiàn)線性反應(yīng)變化，壓力越大則電導(dǎo)越高，再由后端軟件將接觸面壓力分布實時呈現(xiàn)并記錄，協(xié)助設(shè)備進行有效調(diào)整校...
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News Center

新聞中心

2025
12-18

深度解析高精度原子力顯微鏡的成像原理與信號處理
一、引言在納米科技蓬勃發(fā)展的當下，對微觀世界的觀測需求愈發(fā)迫切，高精度原子力顯微鏡應(yīng)運而生，成為探索納米尺度奧秘的關(guān)鍵利器。它憑借獨特的成像原理和精妙的信號處理機制，突破光學衍射，讓科學家得以“觸摸”物質(zhì)表面的原子世界。二、成像原理：探針與樣品間的微弱相互作用1.基本構(gòu)造：高精度原子力顯微鏡核心部件包含一個較細的探針，通常由硅或氮化硅制成，懸臂長度僅幾百微米，末端針尖曲率半徑可達納米級甚至更小。當探針靠近樣品表面時，二者間會產(chǎn)生多種相互作用力，如范德華力、靜電力、磁力等，這些...
2025
11-20

一文讀懂激光直寫光刻機：無掩模光刻的原理與核心優(yōu)勢
在半導(dǎo)體制造、微納加工等領(lǐng)域，光刻技術(shù)始終占據(jù)著關(guān)鍵地位。傳統(tǒng)的掩模光刻技術(shù)雖已成熟，但存在掩模成本高、制作周期長等局限。而激光直寫光刻機作為無掩模光刻技術(shù)的代表，正憑借其獨特原理和顯著優(yōu)勢，逐漸成為行業(yè)的新焦點。一、原理激光直寫光刻機的核心原理是利用激光束直接在涂有光刻膠的基底上進行圖案化曝光，無需傳統(tǒng)光刻中復(fù)雜的掩模版。具體過程如下：首先，計算機將設(shè)計好的電路或圖形數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為控制信號，調(diào)控激光束的開關(guān)、強度以及運動軌跡。然后，高能量的激光束聚焦到光刻膠表面，使光刻膠發(fā)生化...
2025
10-15

光學表面缺陷分析儀：原理、技術(shù)突破與高精度檢測實踐
在精密制造領(lǐng)域，光學元件的表面質(zhì)量直接影響著設(shè)備的成像精度和系統(tǒng)穩(wěn)定性。光學表面缺陷分析儀作為關(guān)鍵檢測工具，通過非接觸式測量技術(shù)實現(xiàn)微米級瑕疵識別，正在推動裝備制造向納米級質(zhì)量控制邁進。本文將從工作原理、技術(shù)創(chuàng)新及應(yīng)用場景三個維度解析該設(shè)備的核心競爭力。一、物理光學與算法融合的檢測原理光學表面缺陷分析儀基于暗場散射成像技術(shù)構(gòu)建檢測基礎(chǔ)。當激光以特定入射角照射樣品表面時，光滑鏡面遵循反射定律將光束導(dǎo)向接收器，而微小缺陷則會引發(fā)漫反射形成可識別的光強分布模式。配合共聚焦顯微鏡架構(gòu)...
2025
9-19

一文讀懂便攜式原子力顯微鏡在多領(lǐng)域的創(chuàng)新應(yīng)用
在納米科技蓬勃發(fā)展的時代，便攜式原子力顯微鏡正突破實驗室局限，成為連接微觀世界與現(xiàn)實場景的橋梁。這種集高分辨率成像、力學測量和環(huán)境適應(yīng)性于一體的袖珍設(shè)備，正在材料科學、生物醫(yī)學及文物保護等領(lǐng)域掀起革新浪潮。本文將從技術(shù)突破、應(yīng)用場景及未來趨勢三個維度，解析其如何推動跨學科研究邁向新高度。一、微型化背后的技術(shù)飛躍傳統(tǒng)原子力顯微鏡受限于龐大體積與真空環(huán)境要求，而新一代便攜式設(shè)備通過三大創(chuàng)新實現(xiàn)性能躍升：一是懸臂梁結(jié)構(gòu)的納米級加工精度提升，使探針靈敏度達到皮牛級別；二是主動減震系統(tǒng)...
2025
8-21

微納米壓痕儀的校準步驟與常見誤差排除方法
微納米壓痕儀作為精密力學性能測試的核心設(shè)備，在材料科學研究和工業(yè)質(zhì)檢中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。為確保數(shù)據(jù)準確性與實驗可重復(fù)性，規(guī)范的操作流程及系統(tǒng)化的誤差控制至關(guān)重要。以下從校準步驟到常見誤差的解決方案展開詳細說明，幫助使用者建立標準化的操作體系。微納米壓痕儀校準工作需從基礎(chǔ)環(huán)節(jié)開始構(gòu)建精準框架。樣品制備階段應(yīng)將表面拋光至鏡面效果，并通過超聲清洗去除污染物殘留，這一過程直接影響后續(xù)接觸界面的質(zhì)量。固定樣品時建議采用專用夾具并嚴格調(diào)整角度，使被測平面與壓頭保持垂直狀態(tài)，任何傾斜都可能引...
2025
7-18

掃描熱學顯微鏡的奧秘探索
在科學的浩瀚宇宙中，總有一些工具如同魔法棒，輕輕一揮，便能揭開自然界隱秘的面紗。掃描熱學顯微鏡，便是這樣一位微觀世界的探險家，它以視角，讓我們得以窺見物質(zhì)內(nèi)部熱量分布的微妙舞蹈，為材料科學、生物醫(yī)學乃至納米技術(shù)等多個領(lǐng)域帶來的洞察力。一、熱量的微觀繪圖師想象一下，如果能夠?qū)⒁粔K材料內(nèi)部的熱量流動情況，像繪制地圖一樣展現(xiàn)出來，那將是多么震撼的景象。掃描熱學顯微鏡，正是這樣一位“熱量繪圖師”。它利用探針與樣品表面之間的熱相互作用，通過精密的控制系統(tǒng)，逐點掃描樣品表面，測量并記錄下...

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技術(shù)文章

等離子共振顯微鏡：解鎖活細胞動態(tài)可視化新方式

在生命科學的探索之旅中，對活細胞內(nèi)部復(fù)雜動態(tài)過程的直觀觀察一直是科學家們追求的目標。傳統(tǒng)光學顯微鏡雖能提供一定的視角，但在分辨率、對比度及實時性方面仍存在局限。近年來，隨著納米技術(shù)和光子學的發(fā)展，一種名為“等離子共振顯微鏡”的創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)運而生，它以清晰度和靈敏度，為活細胞的動態(tài)可視化開辟了全新的路徑。一、技術(shù)原理與優(yōu)勢等離子共振顯微鏡的核心在于利用金屬納米結(jié)構(gòu)表面的局域表面等離子體共振效應(yīng)。當光波照射到這些精心設(shè)計的金屬納米結(jié)構(gòu)上時，會激發(fā)電子集體振蕩，形成強烈的電磁場增強效...

2025-11-24
圓探針式臺階儀分辨率提升方法及實驗驗證

在微電子制造、精密光學和納米材料研究領(lǐng)域，圓探針式臺階儀作為關(guān)鍵形貌測量設(shè)備，其分辨率直接決定了薄膜厚度、臺階高度等參數(shù)的檢測精度。本文針對影響儀器性能的核心因素進行系統(tǒng)分析，并提出優(yōu)化方案與實驗驗證路徑。一、探針參數(shù)優(yōu)化設(shè)計探針曲率半徑是制約橫向分辨率的首要因素。理論計算表明，當探針半徑減小至微米級時，邊緣效應(yīng)引起的測量誤差可降低。配合彈性模量匹配的金剛石涂層，既提高耐磨性又將接觸變形量控制在納米級別。動態(tài)校準顯示，改良后的探針對階梯結(jié)構(gòu)的響應(yīng)靈敏度提升。二、信號處理算法升...

2025-10-23
大樣品臺原子力顯微鏡的長期穩(wěn)定性評估

在納米級表征領(lǐng)域，大樣品臺原子力顯微鏡因能容納不規(guī)則超大試樣而備受青睞。然而，這類設(shè)備在實際工作環(huán)境中面臨多重挑戰(zhàn)——環(huán)境溫濕度波動、機械振動傳導(dǎo)以及自身熱漂移等因素均可能影響成像質(zhì)量和測量精度。本文通過系統(tǒng)實驗設(shè)計與數(shù)據(jù)分析，深入探討這些因素對設(shè)備長期穩(wěn)定性的具體影響機制及補償方案。一、溫度梯度導(dǎo)致的熱形變補償難題實驗數(shù)據(jù)顯示，當實驗室環(huán)境溫度以特定℃/h速率變化時，大樣品臺原子力顯微鏡由于材料熱膨脹系數(shù)差異會產(chǎn)生微小形變。這種緩慢而持續(xù)的偏移會逐漸累積成明顯的圖像失真，特...

2025-9-25
高精度輪廓儀常見故障排查

高精度輪廓儀作為精密測量設(shè)備，在工業(yè)生產(chǎn)和科研領(lǐng)域扮演著重要角色。然而在實際使用過程中，用戶常會遇到測量結(jié)果偏差、數(shù)據(jù)異常波動等問題，這些故障不僅影響工作效率，還可能導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量誤判。本文將系統(tǒng)梳理常見故障現(xiàn)象及其對應(yīng)解決方案，幫助使用者快速定位問題并恢復(fù)設(shè)備正常性能。測量不準是用戶反饋較集中的問題之一。當發(fā)現(xiàn)同一工件多次測量數(shù)值存在明顯差異時，首先要檢查校準狀態(tài)。多數(shù)設(shè)備內(nèi)置標準塊自動校準功能，但長期使用后機械部件磨損或環(huán)境溫濕度變化都可能使基準偏移。建議每周進行一次靜態(tài)標...

2025-8-26
納米壓痕儀：解鎖微觀世界的精密密碼

當我們談?wù)摰讲牧系挠捕取椥阅Ａ炕蚴乔姸葧r，往往需要一個能夠測量這些性質(zhì)的工具。而在這個追求精度的時代，納米壓痕儀應(yīng)運而生，它如同一位細膩入微的設(shè)備，在微觀尺度上揭開了物質(zhì)力學性能的秘密面紗。不同于傳統(tǒng)的宏觀測試方法，如布氏硬度計或洛氏硬度測試，它們只能提供較為粗略的數(shù)據(jù)且受限于較大的樣本尺寸和表面粗糙度的影響。納米壓痕儀則采用了一種全新的方式：通過微小的探針施加可控的壓力到材料表面上，并記錄下隨之產(chǎn)生的位移變化。這個過程就像是用一根細針輕輕觸碰水面，觀察泛起漣漪的過程一...

2025-7-28
等離子共振顯微鏡，探微觀奧秘

在科學探索的漫漫長路中，人類始終在追尋著能夠突破現(xiàn)有局限、更深入地洞察微觀世界奧秘的工具。等離子共振顯微鏡的出現(xiàn)，猶如為科學家們打開了一扇通往全新微觀領(lǐng)域的大門。當我們提及微觀觀測，傳統(tǒng)光學顯微鏡和電子顯微鏡是大家較為熟知的。然而，它們各自存在著一定的局限性。光學顯微鏡受限于光的波長，難以觀測到納米級別以下的微小結(jié)構(gòu)；而電子顯微鏡雖然有更高的分辨率，但復(fù)雜的樣品制備過程以及電子束可能對樣品造成的損傷等問題，也給研究帶來了諸多不便。等離子共振顯微鏡則另辟蹊徑，它利用的是一種特殊...

2025-6-25
臺式納米壓痕儀，微觀世界的探索者

在微觀世界里，每一次觸碰都可能揭示材料科學的新奧秘。臺式納米壓痕儀，這一看似不起眼的設(shè)備，卻如同一位精細的工匠，以其方式探索著材料的微觀力學性能。它不僅僅是一臺儀器，更是連接宏觀與微觀、理論與實踐的橋梁，帶領(lǐng)著科學家們深入理解材料的本質(zhì)。一、初識納米壓痕技術(shù)納米壓痕技術(shù)，簡而言之，是一種通過較小的探針(通常為金剛石制成的壓頭)對材料表面進行微小壓痕實驗的方法。這項技術(shù)能夠在納米尺度上測量材料的硬度、彈性模量等力學參數(shù)，而它正是實現(xiàn)這一技術(shù)的核心工具。不同于傳統(tǒng)的宏觀力學測試，...

2025-6-20
電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用與前沿發(fā)展

電子顯微鏡作為一種利用電子束替代光束進行觀察的高分辨率顯微鏡，已經(jīng)在科學研究與材料分析領(lǐng)域發(fā)揮了作用。而在這一領(lǐng)域，電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)更是以其功能和廣泛的應(yīng)用范圍，成為了材料科學、物理學和化學等多個學科研究中的關(guān)鍵工具。電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)通過將樣品置于一個可控的高溫高壓環(huán)境下，結(jié)合電子顯微鏡的高分辨率成像能力，使得研究者能夠?qū)崟r、動態(tài)地觀測樣品在高溫下的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)變化。這種技術(shù)不僅拓寬了電子顯微鏡的應(yīng)用邊界，更為深入理解材料的本質(zhì)特性提供了強有力的支持。在材料科學研究...

2025-2-24

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